UV-VIS是测材料的透射,反射和吸收的仪器,通过测出的透射或者吸收谱就能拟合出该材料的禁带宽度。而荧光光谱是电致发光光谱,常用来看缺陷。

PL光谱是光致发光,是通过一定波长的光来激发材料,使其光致发光,原理是形成的光生电子和空穴再次复合从而发出荧光,所以一定程度上其吸收峰的波长和紫外差不多,但是吸收峰的强度说明电子空穴复合率,晶格缺陷越多(结晶度越差),峰高越高(复合率越多)

PLE对应的是PL,PL显示样品对激发波长在紫外可见范围内的响应情况,理论上如果样品发射峰在580nm,以580nm检测,测PLE,如果最大峰在350,就说明以350激发该样品时,产生的峰,强度最高。通常是PLE和PL相互来确定的。

PL谱和荧光光谱仪区别

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